Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
А. А. Чернышев
В книге на основе современных физических представлений рассмотрены
вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факто-
ров и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты,
возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводни-
ковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения
их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся
производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их
применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих
специальностей.
вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факто-
ров и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты,
возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводни-
ковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения
их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся
производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их
применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих
специальностей.
Година:
1988
Издателство:
Радио и связь
Език:
russian
ISBN 10:
525600042X
ISBN 13:
9785256000424
Файл:
DJVU, 3.84 MB
IPFS:
,
russian, 1988
Litres
Искате ли да добавите книжарница? Свържете се с нас на support@z-lib.do
Конвертиране на файлове
Още резултати от търсенето
Други предимства 
